Widok standardowy Widok MARC Widok ISBD

Systemy uczące się : rozpoznawanie wzorców, analiza skupień i redukcja wymiarowości /

Systemy uczące się : rozpoznawanie wzorców, analiza skupień i redukcja wymiarowości / Mirosław Krzyśko [et al.]. - Warszawa : Wydawnictwa Naukowo-Techniczne, 2008. - 400 s. : il. ; 24 cm.

Bibliogr. s. 382-391. Indeksy.

ISBN: 9788320434590

Nat. Bib. No.: UWD 2009/19812

Subjects--Topical Terms:
Statystyka matematyczna--metody.
Uczenie się maszyn

Index Terms--Genre/Form:
Podręczniki akademickie

Universal Decimal Class. No.: 004.85:519.2](075.8)

Drukuj
Cytuj
Dodaj do koszyka (usuń)
Kod QR
Więcej wyszukiwań

Szukaj tytułu w:

Systemy uczące się : rozpoznawanie wzorców, analiza skupień i redukcja wymiarowości /

Biblioteka